產(chǎn)品介紹

貝拓科學(xué)專業(yè)研發(fā)設(shè)計(jì)生產(chǎn)的BRAGG臺(tái)式X射線衍射儀采用先進(jìn)的X射線衍射技術(shù)，能夠快速、精確地進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)分析、相態(tài)識(shí)別和定量分析。BRAGG具有高分辨率和靈敏度，可以應(yīng)對(duì)多種樣品類型，包括粉末、液體、固體等。它還配備了用戶友好的軟件界面，方便用戶進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析。這款儀器適用于多個(gè)領(lǐng)域，包括材料科學(xué)、地球科學(xué)、化學(xué)等，為研究人員和工程師提供了強(qiáng)大的分析工具。

儀器特點(diǎn)

● 光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器

面陣型光子計(jì)數(shù)半導(dǎo)體探測(cè)器

高靈敏，可實(shí)現(xiàn)單光子計(jì)數(shù)

動(dòng)態(tài)范圍大

雙閾值

抗強(qiáng)輻射長(zhǎng)時(shí)照射，長(zhǎng)壽命

● 固定測(cè)角儀系統(tǒng)

同時(shí)獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像

2D成像，同時(shí)收集γ角度信息

● 大角度弧形探測(cè)器

同時(shí)獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像

2D成像，同時(shí)收集γ角度信息

探測(cè)器至樣品距離:150 mm

多片探測(cè)器全角度無(wú)縫覆蓋

● 支持多種數(shù)據(jù)采集模式

固定照相模式獲取2D衍射幀

快掃模式獲取1D衍射譜

功能應(yīng)用

● 物相鑒定

● 定量分析

●結(jié)晶度

●晶胞參數(shù)

●晶粒尺寸

●晶體結(jié)構(gòu)

●Rietveld 精修

●相變

技術(shù)參數(shù)